I-PEX 20497-032T-30の高速極細同軸線束伝送損耗解析

5Gモバイルデバイス、超薄ノートパソコン、車載映像システム、高解像度カメラモジュールのバンド幅の需要が高まるとともに、極細同軸線束の高速伝送領域での重要性がますます顕著になっています。高速リンク設計では、信号の減衰とインサートロスがリンク品質を決定する鍵となります。
本文ではI-PEX CABLINE-UA IIシリーズの20497-032T-30を例に、高速伝送構造の角度からこれらの指標がシステム性能に与える影響を分析する。

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一、I-PEX 20497-032T-30の構造特性

20497-032T-30は、CABLINE-UA IIシリーズに属し、32ビット高速極細同軸線束用に設計されています。ピッチは0.30mmで、全体の高さは約1.37mmで、軽薄な機器の空間要件を満たします。タッチポイント素材はニッケルコートされた黄銅で、0.1μm以上の金層を重ね合わせており、高速振動環境でも安定した接触品質を保ちます。このシリーズはRoHS、REACH、Halogen-Freeに適合し、USB 3.1 Gen1、V-By-One HS、eDP、MIPIなどの高速インターフェースに対応し、高周波信号に対して優れた保持能力を有します。

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二、極細同軸線における信号衰減の表現

信号衰減は、高频信号が同軸構造で距離に応じて次第に弱くなるプロセスです。極細導体の固有抵抗が高く、GHzレベルの周波数では被覆効果が顕著になり、エネルギー損耗が増加します。衰减レベルは、線束の長さ、周波数、絶縁材料、曲げ半径および作業温度に影響され、信号の振幅を直接減少させ、アイ・マップの開口を狭め、誤り率を向上させます。高速伝送システムでは、衰减曲線はリンクの信頼性を評価する基本指標です。

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第3節　挿入損失は構造転移領域のエネルギー損失から来る

插入損失は、信号が渡過構造を通過する際に生じるエネルギー減衰を指します。その主な原因は、インピーダンスの変化、金属層と絶縁材料の違い、および接触界面の微細な欠陥です。もし渡過領域の特性インピーダンスが線束特性から逸脱すれば、信号は反射されます；また金属コート、絶縁材料、または幾何構造の不均一さも、周波数が高い場合の損失増加を引き起こします。CABLINE-UA IIシリーズは、構造の渡過領域の最適設計と厳格な公差管理により、插入損失を低レベルに抑え、全体の帯域幅利用効率と信号の完全性を向上させます。

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高速とミクロニングのトレンドが共存する設計において、極細同軸線束の損失特性と过渡構造が引き起こす插入損失は、回路の安定性を共に決定します。20497-032T-30などの、コンパクトな空間と高周波伝送に特化した線束方案を選ぶことで、損失を低減し全体のシステム性能を向上させることができます。

わたしは【蘇州瑞成元電子技術】，長期的に高速信号線束および極細同軸線束のデザインとカスタマイズに専念しており、クライアントに安定・信頼性の高い高速接続ソリューションを提供することに取り組んでいます。関連するご要望や詳細についてのご相談がございましたら、どうぞお問い合わせください。尹経理：18913280527（微信同号）。